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| Segunda, 09/09/2019 | 00:00 | 01:00 | 02:00 | 03:00 | 04:00 | 05:00 | 06:00 | 07:00 | 08:00 | 09:00 | 10:00 | 11:00 | 12:00 | 13:00 | 14:00 | 15:00 | 16:00 | 17:00 | 18:00 | 19:00 | 20:00 | 21:00 | 22:00 | 23:00 | ||||||||||||||||||||||||
| Equipamento de Raio-X para inspeção de Componentes BGA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Equipamento Pick and Place | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Estação de Retrabalho BGA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Forno de Refusão | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Impressora de Solda por Stencil | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Langmuir-Blodgett e Cuba de Langmuir | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Litografia Laser: Heidelberg DWL-66FS | Manutenção | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Máquina Aplicadora de Resina Líquida Modelo1414 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Matlab R2006b - Laboratório de Software | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio Eletrônico SEM-FEG Mira 3 XMU - Tescan | Michele Odnicki da Silva - Análise de amostras de nanofios de prata | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Espectrômetro Lambda 900 UV/VIS/NIR. Perkin Elmer | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Câmara de Caracterização e Medidas de Emissão de Campo | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sistema de Microscopia Óptica – Olympus MX61 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio de Infravermelho – Thermo Fisher Scientific | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Potenciostato Autolab | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Medidor de Ângulo de Contato | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| AFM Nanosurf easyScan | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Perfilômetro NanoMap | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio óptico com câmera Olympus BX51 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sistema de medidas de resistência superficial pelo método de 4 pontas | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Espectrômetro de Infravermelho - Spectrum 100 - Perkin Elmer | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sistema de prototipagem rápida de placas de circuito impresso - LPKF ProtoMat S103 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sistema de Deposição por Spray – ExactaCoat | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| DICR.01 - Dicer DAD321 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sala de corte e preparação de substratos de vidro | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Equipamento de inspeção de Raios-X | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Glovebox - Polímeros | Viviane Hamanaka - Deposição de filmes por spin coating | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Glovebox - Evaporação | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Copiadora Tamarack Série 155 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Alinhadora de máscara MJB3 Karl Suss | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Inkjet Dimatix DMP-28 - Sistema de Deposição de Materiais Metálicos por Jato de Tinta | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Inkjet Dimatix DMP-28 - Sistema de Deposição de Materiais Orgânicos por Jato de Tinta | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Evaporadora térmica EV400 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| RIE plasma O2 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Cee 200CBX 8'' + Hot Plate: Spin Coating | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Cee 200DBX 8'' + Hot Plate: Revelação & Etching | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Deposição de resiste com spinner Headway 6'' | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Capela química Fell | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sputtering Balzers BMC450 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Revelação/ataque Convac CPP 6-8'' | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio para inspeção com capacidade de até 8" Nikon L200 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| RTP AccuThermo AW 610 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Terça, 10/09/2019 | 00:00 | 01:00 | 02:00 | 03:00 | 04:00 | 05:00 | 06:00 | 07:00 | 08:00 | 09:00 | 10:00 | 11:00 | 12:00 | 13:00 | 14:00 | 15:00 | 16:00 | 17:00 | 18:00 | 19:00 | 20:00 | 21:00 | 22:00 | 23:00 | ||||||||||||||||||||||||
| Equipamento de Raio-X para inspeção de Componentes BGA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Equipamento Pick and Place | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Estação de Retrabalho BGA | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Forno de Refusão | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Impressora de Solda por Stencil | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Langmuir-Blodgett e Cuba de Langmuir | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Litografia Laser: Heidelberg DWL-66FS | Manutenção | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Máquina Aplicadora de Resina Líquida Modelo1414 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Matlab R2006b - Laboratório de Software | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio Eletrônico SEM-FEG Mira 3 XMU - Tescan | Talita Mazon - SEM-Talita | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Espectrômetro Lambda 900 UV/VIS/NIR. Perkin Elmer | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Câmara de Caracterização e Medidas de Emissão de Campo | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sistema de Microscopia Óptica – Olympus MX61 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio de Infravermelho – Thermo Fisher Scientific | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Potenciostato Autolab | Aline Macedo Faria - ANALISE SENSOR | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Medidor de Ângulo de Contato | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| AFM Nanosurf easyScan | Fernando Ely - Medidas de topografia em padrão de impressão | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Perfilômetro NanoMap | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Microscópio óptico com câmera Olympus BX51 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Sistema de medidas de resistência superficial pelo método de 4 pontas | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||